Apresentação

A disciplina aborda diferentes técnicas de análise e caracterização de materiais, com enfoque em microscopia eletrônica, difratometria de raios X, espectroscopia de emissão, análise térmica e técnicas de caracterização mecânica e ambiental dos materiais.

 

Carga Horária: 45

 

Bibliografia

W.D. Callister, Materials Science and Engeneering. John Wiley and Sons, 5a edição. Nova Iorque, 2000.

SKOOG, Douglas A.; HOLLER, F. James; NIEMAN, Timothy A. Princípios de análise instrumental. 5. ed. Porto Alegre: Bookman, 2002.

D.B. Williams, C. B. Carter, Transmission electron microscopy: a textbook for materials science, New York: Plenum Pub Corp, 1996.

D. Cullity, Elements of X-Ray Diffraction, 2nd ed., Addison-Wesley Publishing Company, Massachussets, 1978.

H.H.Willard, et alli, Instrumental methods of analysis. Wadsworth publishing Company, Belmont, Califórnia, 7th Ed. 1988.

J.D. Ingle et alli., Spetrochemical analysis. Prentice-Hall, Inc. 1988

R.M. Silverstein, G.C. Bassler, T.C. Morrill, Identificação espectrométrica de compostos orgânicos 5ed. Rio de Janeiro : LTC, 1994.

D.L. Pavia, G.M. Lampman, G.S. Kriz., Introduction to spectroscopy: a guide for students of organic chemistry, 2ed. Fort Worth : Saunders College,

1996.

H. Friebolin, Basic One- and Two-Dimensional NMR Spectroscpoy, 3rd ed. Wiley-VCH, 1998.

L. Smith, Applied Infrared Spectroscopy: Fundamentals, Techniques, and Analytical Problem-Solving, Wiley-Interscience, 1979.

M. J. K. Thomas, D. J. Ando, Ultraviolet and Visible Spectroscopy : Analytical Chemistry by Open Learning, John Wiley & Sons, 2 ed, 1996.

F.G. Kitson, B. S. Larsen, C. N. McEwen, Gas Chromatography and Mass Spectrometry, Academic Press, 1st ed, 1996.

Jnrgen H. Gross, Mass Spectrometry: A Textbook, Springer-Verlag, 2004.

P. Pureur, Estado Sólido, Instituto de Física, UFRGS, Porto Alegre, 2001.

H.P. Klug, L. E. Alexander, X-ray diffraction procedures: for polycrystalline and amorphous materials, Jonh Wiley & Sons, New York, 1974.

M.M. Woolfson, An introduction to X-ray crystallography. Cambridge University Press, Cambridge, 1970.

M. F. C. Ladd, A. R. Palmer, Structure determinant by X-ray crystallography. Plenun Press, New York, 1977.

L. Reimer, Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. New York: Springer Verlag, 1997.

F. Padilha, F. Ambrozio Fo., Técnicas de análise microestrutural. São Paulo: Hemus, 1992.

S. A. Souza, Ensaios mecânicos de materiais metálicos, São Paulo: Editora Edgard Blucher Ltda, 1982.

S. Mellconian, Mecânica técnica e resistência dos materiais. São Paulo: Editora Érica, 2000.

Garcia, Ensaios dos Materiais Rio de Janeiro: Ltc Editora, 2000.

E.F. Lucas, B. G. Soares, E. E. C. Monteiro, Caracterização de polímeros : determinação de peso molecular e análise térmica, Rio de Janeiro : Epapers, 2001.

P. J. Haines, Thermal Methods of Analysis: Principles, Applications and Problems, London: Champman & Hall, 1995.

 

Campus I  |  Av. Dr. Maurício Cardoso, 510  •  Bairro Hamburgo Velho  •  Novo Hamburgo  •  RS  •  CEP 93510-250
Campus II  |  ERS 239, 2755  •  Novo Hamburgo  •  RS  •  CEP 93352-000  •  Telefone: (51) 3586-8800


Resolução mínima de 800x600. © Copyright 2005, Universidade Feevale. Search powered by Google.