Ementa
Apresentação das técnicas espectroscópicas, de microscopia eletrônica e difratometria de raios X, bem como técnicas para a determinação de propriedades mecânicas e térmicas de materiais diversos.
Objetivos
Apresentar as técnicas de caracterização de materiais por espectroscopia, microscopia eletrônica e difratometria de raios X, bem como as técnicas de determinação de propriedades mecânicas e térmicas de materiais diversos, tornando o aluno apto a reconhecer a técnica que lhe é disponibilizada e os respectivos campos de aplicação.
Bibliografia
W.D. Callister, Materials Science and Engeneering. John Wiley and Sons, 5a edição. Nova Iorque, 2000.
SKOOG, Douglas A.; HOLLER, F. James; NIEMAN, Timothy A. Princípios de análise instrumental. 5. ed. Porto Alegre: Bookman, 2002.
D.B. Williams, C. B. Carter, Transmission electron microscopy: a textbook for materials science, New York: Plenum Pub Corp, 1996.